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CT電路板故障測(cè)試中有哪些注意事項(xiàng)
來源: | 作者:重慶醫(yī)療器械維修 | 發(fā)布時(shí)間: 2022-10-27 | 387 次瀏覽 | ?? 點(diǎn)擊朗讀正文 ?? ? | 分享到:

在CT電路板故障測(cè)試中,除首先應(yīng)檢查接口電路外,其次應(yīng)該認(rèn)真檢查緩沖器和緩沖器與接口電路之間的門電路及相接的鎖存器電路,這也是常發(fā)生故障部位,應(yīng)預(yù)以優(yōu)先測(cè)試。各種觸發(fā)器、寄存器及選擇器類IC器件的在線狀態(tài)常常和線路中的其它IC器件的狀態(tài)關(guān)聯(lián)密切,應(yīng)首先檢測(cè)其外圍相接芯片和電路,當(dāng)確認(rèn)外圍電路沒有問題后,再進(jìn)行其本身檢查。對(duì)于游移性或不穩(wěn)定性故障,多是由于器件性能變差、溫度特性不好、器件插腳接觸不良所致。對(duì)于懷疑性能變差的器件,應(yīng)用記憶示波器,對(duì)其邏輯波形的變化進(jìn)行細(xì)致的觀察和比較,波形是否產(chǎn)生毛刺或抖動(dòng)等,多能發(fā)現(xiàn)故障器件。

對(duì)于懷疑溫度特性不好的芯片,用絕緣物質(zhì)將其與周圍芯片隔離,用微型電吹風(fēng)分別吹以冷風(fēng)和熱風(fēng),觀察電路狀態(tài)變化,多能發(fā)現(xiàn)溫度不穩(wěn)芯片。隨機(jī)性故障一般由隨機(jī)性原因引起,但這類故障除抗干擾能力差外,多由接觸不良引起,這類故障多找不到具體故障點(diǎn)或故障芯片,應(yīng)根據(jù)信號(hào)流程、邏輯圖具體分析處理。

故障電路板上的接觸不良故障,多由于處理器、寄存器等多插腳的IC芯片插腳接觸不良造成,尤其是方型插接芯片。取下后用橡皮擦拭芯片插腳,使之光亮清潔,用小毛刷認(rèn)真清潔插座,重裝后多能奏效。對(duì)于易發(fā)生故障的芯片取下后可換上芯片插座,方便今后芯片的更換或?qū)Σ环€(wěn)定性故障芯片的排除試驗(yàn)。一些芯片發(fā)生莫名其妙的損壞,其原因多是靜電放電。一般芯片抗靜電電壓值為1000V~2000V。TTL芯片1000V左右,NMOS芯片500V左右,EPROM芯片只有200V左右,人體所帶靜電電壓一般為上萬伏,故在電路板維修操作中,要注意使用防靜電手環(huán),防止意外芯片損壞。